I projektet har der været særligt fokus på analyse af svært tilgængelige områder ved hjælp af replikering, der er en billig metode til at muliggøre karakterisering af disse områder. Desuden er der arbejdet med areal-baseret (3D) ruhedsmåling, der giver et langt mere detaljeret billede af en ukendt overflade.

Hidtil har det været forbundet med store udfordringer at måle ruheder på nanoskala (Ra < 50 nm), karakterisere indersiden af en møtrik eller undersøge kvaliteten af svejsninger på svært tilgængelige områder. Med nye karakteriseringsmetoder er alt dette muligt og endda uden at det kræver store investeringer!

Tilmelding til info@dfm.dk

Tilmeldingsfrist: 25. november 2014